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AND日本艾安德BM系列超微量天平(内校)

简要描述:AND日本艾安德BM系列超微量天平(内校)
Z大分辨率达2500万分之一,自动微量分析天平,标配无风电离器,采用直流式无风电离消除器消除静电,不会因离子流产生粉末样品漂浮,采用导电涂层的防风玻璃,防止人体或样品带电造成测量不稳定,网格状称盘,配置不容易受空气对流影响的网格状称盘,BM-20/22适用。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:其他
  • 更新时间:2023-05-11
  • 访  问  量:1040
详细介绍
品牌其他品牌产地类别进口
仪器量程20-100g仪器精度百万分之一克
价格区间10万-30万仪器种类超微量天平

AND日本艾安德BM系列超微量天平(内校)

 

BM-200         220/0.1mg        

BM-300         320g/0.1mg      

BM-500         520g/0.1mg  

BM-252         250/0.01mg          

BM-22(双量程)22/5.1g*10ug/1ug  

BM-20          22g/1ug  

 

BM系列AND天平产品特征

zui大分辨率达2500万分之一,自动微量分析天平

标配无风电离器,采用直流式无风电离消除器消除静电,不会因离子流产生粉末样品漂浮

采用导电涂层的防风玻璃,防止人体或样品带电造成测量不稳定

网格状称盘,配置不容易受空气对流影响的网格状称盘,BM-20/22适用

横向滑动门控操作,人性化门控系统,两手同时完成门控和样品放置

操作性良好的称量空间,称量台双环设计分隔板取下后也可以进行静电消除

两种通信方式,标朽RS-232接口和USB接口

标配Windows测量软件,配轩AND计量标准应用软件winCT

强大数据存储功能,百分比功能

GLP/GMP/GCP/ISO格式输出,大型高清晰白色背光LCD显示

密度测定(选配AD-1653密度组件)*BM20/22 除外

 

    BM 系列日本 AND 自动微分析天平(内校)规格参数表-上海本熙科技

 

 

 BM 系列日本 AND 自动微分析天平(内校)-上海本熙科技 BM 系列日本 AND 自动微分析天平(内校)1-上海本熙科技

 

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AND日本艾安德BM系列超微量天平(内校)


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